Das Ingenieurbüro für Angewandte Spektrometrie bietet High-End Messtechnik für die Diodenzeilen-Spektrometrie seit über 25 Jahren.
Wir sind besonders auf Schichtdickenmessung und Plasma-Emissionsmessung spezialisiert, im Labor und in Prozessumgebung.
Unsere Technologie zur Schichtdickenmessung benutzt die sog. "Weißlicht-Interferenz" (der Effekt ist auf der Seifenblase oben zu sehen) zur kontaktlosen und zerstörungsfreien Messung von transparenten Einzel-, Doppel- und sogar Dreifachschichten.
Die TranSpec Spektrometer erlauben die Überwachung praktisch beliebiger Emissionslinien eines PVD-Plasmas im gesamten UV-VIS-NIR Spektralbereich, simultan und in Echtzeit! Dies ermöglicht eine unmittelbare Rückkopplung zur Kontrolle der Prozessgase.
Die TranSpec Lite Messgeräte Messgeräte sind speziell für manuell ausgeführte und einfachzu handhabende, aber dennoch präzise Schichtdickenmessungen im Labor und für die QS entwickelt worden.
Die Geräte werden hauptsächlich zur Lackdickenmessung auf Automobil-Streuscheiben verwendet.
FTM-ProVis Lite ist eine sehr einfach zu bedienende Software, mit der Sie hochgenaue Schichtdickenmessungen mit Hilfe der Weißlicht-Interferenz von dünnen transparenten Schichten auf unseren TranSpec Lite Schichtdicken-Messgeräten durchführen können.
Bei den TranSpec Diodenzeilen-Spektrometer wird innovative Optoelektronik mit leistungsfähiger Analog/Digital-Elektronik in 19-Zoll Gehäusen kombiniert.
Durch den Anschluss von flexiblen Lichtleitern sind Spektrometersysteme entstanden, deren Anwendung von der Laboranalytik bis hin zu speziellen Aufgaben im Prozess reicht.
Die TranSpec Spektrometer sind optional mit integrierter Deuterium- /Halogenlampe ausgerüstet (wie im Foto oben) und werden hauptsächlich zur Schichtdicken- und Plasma-Emissionsmessung verwendet.
PEM-ProVis Professional ist eine komfortable Software zur optisch-spektralen Messung von Plasma-Emissionen mit Hilfe unseres Lichtleitergekoppelten TranSpec Spektrometers. Die Software erlaubt die simultane Online-Überwachung von bis zu 4 Emissionslinien an frei wählbaren Wellenlängen aus dem spektralen Messbereich von circa 200 nm bis 1000 nm.
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